CX-118A晶振測試儀

本系列儀器采用倒數(shù)計(jì)數(shù)技術(shù)實(shí)現(xiàn)等精度測量。它測量精度高，靈敏度高，速度快，閘門時(shí)間可選；具有頻率測量、周期測量、PPM測量、分檔測量、上下限測量、累加計(jì)數(shù)等功能；中心頻率（標(biāo)稱頻率）F₀、分檔值P_r1～P_r8(ppm) 、上限頻率F_U、下限頻率F_L可任意設(shè)定并能存儲。該機(jī)前置電路有低通濾波器、衰減器等。特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)的生產(chǎn)和科研之用。
主要特征
1 .本機(jī)采用倒數(shù)計(jì)數(shù)技術(shù)，測量精度高，測量范圍寬，真正實(shí)現(xiàn)等精度測量，測量速度快，靈敏度高。
2 .采用單片微機(jī)技術(shù)進(jìn)行周期頻率測量和智能化管理，使得儀器具有很高的可靠性和優(yōu)良的性能／價(jià)格比。
3 .整機(jī)采用大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)，CPLD器件的運(yùn)用，使儀器元器件大為減少，可靠性有了很大的提高，平均*工作時(shí)間≥10000h。

整機(jī)外型美觀大方，體積小，重量輕，使用方便。

CX-118A晶振測試儀 

技術(shù)參數(shù)

頻率測量：A通道:1Hz～100MHz；

B通道:100MHz～1.6GHz(選件)

周期測量：A通道:10ns～1s

PPM測量：-9999～9999ppm

上、下限測量：可根據(jù)用戶所設(shè)定的上限參數(shù)F_U、下限參數(shù)F_L來測量被測頻率是否超出上、下限，超限則報(bào)警。

分檔測量：根據(jù)用戶所設(shè)定的中心頻率F₀自動進(jìn)行分檔測量。分檔值：P_r1～P_r8可在1～999ppm之間任意設(shè)置

分檔檔數(shù)：以中心頻率F₀為中點(diǎn)左右分成16檔

累加計(jì)數(shù)：計(jì)數(shù)容量：0～10⁹－1 (選件)

計(jì)數(shù)方式：鍵控、門控或外門控可選。3.2 輸入特性

輸入阻抗： A通道: 1MΩ//40pF

                 B通道: 50Ω3.2.2 輸入耦合方式：AC3.2.3 波形適應(yīng)性：正弦波、脈沖波

輸入電壓動態(tài)范圍:

A通道：30mVrms～250Vp～pB通道: 30mVrms～1Vrms3.2.5 A通道低通濾波器：－3dB 帶寬約100kHz3.2.6 A通道衰減：×1或×203.3 測量誤差3.3.1 頻率或周期測量誤差：±時(shí)基誤差±觸發(fā)誤差±LSD100ns其中：LSD＝─────×被測頻率（或被測周期）閘門時(shí)間觸發(fā)誤差：當(dāng)被測信號的信噪比為40dB時(shí)，觸發(fā)誤差≤0.3%